深圳谷易电子生产的LCC36pin-0.65mm芯片测试座-LCC芯片测试socket，简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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定制LCC36pin-0.65mm射频芯片测试座-LCC射频芯片测试socket

LCC36pin-0.65mm射频芯片测试座规格参数：

芯片封装形式：LCC

芯片引脚数：36pin

适配芯片尺寸：7.8*7.8mm

接触介质：导电胶

测试座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金+PEEK

联系工程师：19925483684韦工（电话微信同号）

深圳谷易电子生产的LCC36pin-0.65mm芯片测试座-LCC芯片测试socket的产品简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家介绍

产品介绍

产品名称：定制LCC36-0.65 7.8x7.8合金翻盖射频测试座

使用用途：对LCC36射频芯片进行模拟电路测试、性能测试使用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数：频率12Ghz, 传输线上不带隔直电容，插损小于1db,
电流2A，耐受脉冲功率≥6000W（占空比≥10%，脉宽1us）@450MHz ，耐受时间超过5分钟

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