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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

模块测试座

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射频模块24pin测试座socket—射频芯片测试夹具

射频模块24pin测试座socket规格参数:
模块引脚:24pin
模块引脚间距:1.5mm
适配模块尺寸:18*18mm
接触介质:探针
射频模块测试座结构:翻盖式
模块测试座材料:合金、PEEK

深圳谷易电子生产的射频模块24pin测试座socket—射频芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

适用于射频模块24pin模拟电路测试环境:老化、测试、烧录,支持射频模块高频测试、导通测试、功能性测试

射频模块24pin测试座产品简介:

模块测试频率:2Ghz

模块测试电流:满足单pin小于1A以内

其中10pin脚需要做50欧阻抗匹配

模块测试温度:-45° ~+125°

我厂支持非标来图一件定制,提供完善的整套IC测试解决方案,并可提供类似案例参考,详询请联系客服