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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

模块测试座

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邮票孔模块128pin测试座socket—模块测试夹具

邮票孔模块128pin测试座规格参数:
模块引脚:128pin
模块引脚间距:1.0mm
适配模块尺寸:38*38mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金、探针

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

产品介绍: 
产品名称:邮票孔模块128pin-1.0mm-38x38mm合金翻盖旋钮测试座socket 
使用用途:对邮票孔模块128pin进行模拟电路测试、性能测试用,支持模块功能性测试、集成电路模块可靠性测试 
性能参数:射频信号2.4GHZ,插损<1db,回损也尽可能小,电流500mA,温度无要求