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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

模块测试座

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定制模块109pin-1.1mm芯片测试座-邮票孔芯片测试socket

模块109pin-1.1mm芯片测试座规格参数:

芯片封装形式:邮票孔模块

芯片引脚数:109pin

芯片厚度:2.45mm

适配芯片尺寸:15.8*17.7mm

接触介质:探针

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金+PEEK

联系工程师:19925483684

深圳谷易电子生产的模块109pin-1.1mm芯片测试座-邮票孔芯片测试socket的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍:定制邮票孔109PIN-1.1   15.8x17.7X2.45合金翻盖测试座

使用用途:对邮票孔109pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数:频率小于1Ghz,电流单pin1A,温度-45~+125°C