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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

IC/芯片测试治具

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LGA220pin芯片测试治具socket—LGA芯片测试架

LGA220pin芯片测试治具socket规格参数:
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:220pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:16.8*20mm
接触介质:探针
测试治具结构:旋钮翻盖式
测试治具材料:合金、PAI、PEEK
谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。
产品介绍: 
产品名称:LGA220pin-1.0mm-16.8*20mm芯片测试治具socket
使用用途:对LGA220pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 

性能参数:电流的话每个pin脚不会超过1A,无其他测试要求

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