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QFN32_0.4_CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写测试座

发表时间:2021-08-27 10:28:29浏览量:1022

工厂介绍: 谷易电子生产QFN32_0.4_CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写测试座,同时生产其他IC老化测试夹具治具 产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN32引脚间距0...
工厂介绍:

谷易电子生产QFN32_0.4_CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写测试座,同时生产其他IC老化测试夹具治具



产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN32引脚间距0.4mm

测试座:QFN32-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定


规格尺寸

型号:QFN-32-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:32

芯片尺寸:5*5