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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间:2021-08-27 10:28:29浏览量:1022【小中大】
谷易电子生产QFN32_0.4_CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写测试座,同时生产其他IC老化测试夹具治具
特点:采用U型顶针,接触更稳定
芯片尺寸:5*5
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