QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试适配器编程座_IC转换插座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试适配器编程座_IC转换插座

发表时间：2021-08-27 10:58:36浏览量：802【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试适配器编程座_IC转换插座，同时生产其他IC老化测试夹具治具产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN84的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN84...

工厂介绍：

谷易电子生产QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试适配器编程座_IC转换插座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN84的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN84 引脚间距0.4mm

测试座:QFN84-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-84-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:84

适配芯片尺寸: 10*10mm