半导体探针在IC测试治具的作用是什么？主要是提高工具的耐久性IC测试探头的设计使其扭簧空间大于常规探头，因此可获得更长的使用寿命。

举例说明：

以下是LPDDR测试治具的产品解决方案：

LPDDR是LowPowerDoubleDataRateSDRAM的缩写，是mDDR(MobileDDRSDRAM),是JEDEC技术协会为低功耗内存制定标准。主流移动设备制造商青睐低功耗、小体积。

LPDDR第三代低功耗内存技术标准为2012年5月JEDEC协会发布。增加了标准重点Write-LevelingandCATraining(写入平衡和指令地址驯化)和OnDieTermination片内终结器/ODT)，为提高高速传输，降低功耗和体积做出更大贡献。

更经济的移动设备正在使用LPDDR3-178的内存。许多使用这种内存的制造商一直在寻找快速测试这种内存芯片的方法，LPDDR3-178测试是通过测试治具进行的。这种测试方法只能用数量代替速度来实现预定的快速测试时间。

测试治具是基于原主板，拆除其LPDDR3-178芯片根据芯片尺寸确定测试接触介质的定位，根据芯片的测试环境和芯片本身的参数状态确定测试工具的设计结构。产品的测试结构也需要根据客户的测试习惯进行微调，如翻盖、旋钮盖等。

内存与CPU通信路线保证系统的正常运行。因此，在制作芯片测试治具时，需要考虑的是试验座的接触介质的长度、接触介质的频率。

接触介质长度短，接触介质高于LPDDR芯片频率3-178，加工定位进度更高，质量检验更仔细，压合更稳定，防止串扰

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