BGA测试座BGA152/132转DIP48翻盖探针测试座FLASH芯片闪存烧录座 _概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA测试座BGA152/132转DIP48翻盖探针测试座FLASH芯片闪存烧录座

发表时间：2021-12-30 18:06:29浏览量：1739【小中大】

工厂介绍谷易电子生产BGA测试座BGA152/132转DIP48翻盖探针测试座FLASH芯片闪存烧录座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SO...

工厂介绍

谷易电子生产BGA测试座BGA152/132转DIP48翻盖探针测试座FLASH芯片闪存烧录座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

产品简介

产品用途:测试座，对BGA152的IC芯片进行测试

适用封装:BGA152 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152-1.0

特点:无需焊接，直接锁上螺丝即可。翻盖换取芯片方便，操作简单