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BGA封装系列

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BGA169pin芯片测试座socket

发表时间:2023-11-02 10:48:43浏览量:474

深圳谷易电子生产的BGA169pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用BGA169pin芯片测试环境:老化、测试、烧录 BGA169pin芯片测试座产品简介: 芯片测试温度:-55°~+125°...

深圳谷易电子生产的BGA169pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA169pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

BGA169pin芯片测试座产品简介:

芯片测试温度:-55°~+125°,老化测试时长:1000小时

有射频测试需求:射频探针标称阻抗:50Ω

绝缘电阻:1000MΩ

介质耐压:≥500Vrms

芯片测试电流:≥500mA

支持被测IP功耗:≥4W

芯片测试频率:10G

芯片测试座结构:旋钮翻盖式

芯片测试座材料:合金