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BGA169pin芯片测试座socket—BGA芯片测试夹具

发表时间：2024-08-07 11:05:31浏览量：738【小中大】

深圳谷易电子生产的BGA169pin芯片测试座socket—BGA芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于BGA169pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试，芯片功能性测试，芯片可...

深圳谷易电子生产的BGA169pin芯片测试座socket—BGA芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于BGA169pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试，芯片功能性测试，芯片可靠性测试

BGA169pin芯片测试座socket产品简介：

芯片信号测试频率：大于1Ghz

芯片测试电流：单pin电流大于1A

芯片测试验证机械寿命：大于10万次

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

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