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BGA225pin芯片测试座socket—bga芯片测试夹具

发表时间：2024-09-24 10:33:19浏览量：707【小中大】

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深圳谷易电子生产的BGA225pin芯片测试座socket—bga芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA225pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
BGA225pin芯片测试座产品简介：
1.绝缘电阻：1000Mohm min at 100VDC
2.电介质耐受电压：100VAC，持续一分钟
3.接触电阻：100mΩ内
4.温度：-40°C~+155°C,老化时长1000h
芯片测试座结构：旋钮翻盖式
芯片测试夹具材料：合金

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