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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间：2024-11-26 10:32:37浏览量：567【小中大】
深圳谷易电子生产的BGA66pin老化测试座socket—BAG芯片老炼测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍
适用于BGA66pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试
BGA66pin芯片老化测试座产品简介：
芯片老化测试温度：-45°~+125°，持续老化测试时长：1000小时
芯片测试电流：单pin满足500mA
芯片测试频率：150mA
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