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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA63pin-0.8mm-(9×11mm-10.5×13.5mm)翻盖弹片老化座(通孔焊接型)

发表时间:2021-05-08 10:52:51浏览量:1563

深圳谷易电子生产的BGA63pin-0.8mm-(9×11mm-10.5×13.5mm)翻盖弹片老化座(通孔焊接型)


GA63翻盖弹片老化座(通孔焊接型)


产品简介
产品用途:测试座,对BGA63的IC芯片进行测试、老化等
适用封装:BGA63 引脚间距0.8mm
测试座:BGA63-0.8
特点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
适配IC规格:
型号:BGA63-0.8
引脚间距(mm):0.8
脚位:63pin