深圳市谷易电子有限公司欢迎您!

深圳市谷易电子有限公司

“谷”聚天下之检测
“易”通世界之雄芯
谷易电子

全国服务热线:

13823541376

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话:13823541376

联系人:兰小姐

邮箱:sales@goodesocket.com

主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

当前位置:首页 > 产品中心 > DDR封装系列

DDR4内存颗粒测试治具_一拖八内存条测试夹具

发表时间:2021-05-10 17:57:10浏览量:2355

采用DDR4内存条公板!兼容性好!!!合金座头、合金限位框、探针结构(寿命长、测试性能稳定),提供测试软件与测试说明!!! 规格: 适用于:三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类品牌ddr4内存颗粒 材料&特...

工厂介绍

谷易电子生产DDR4内存颗粒测试治具    同时专业定制BGA,LGA,CSP,QFN,DFN,QFP,PLCC,LCC,SOT,SOP,TSSOP, SSOP,TSOP,TO,DIP等各种封装和规格测试座,测试治具,老化座,测试架,IC插座,具体类型,价格和交期请咨询客服!


采用DDR4内存条公板!兼容性好!!!合金座头、合金限位框、探针结构(寿命长、测试性能稳定),提供测试软件与测试说明!!!


规格:

适用于:三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类品牌ddr4内存颗粒



材料&特性:

1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料

2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

3、探针:

材料:

针管:磷铜

针头:铍铜

弹簧:琴钢丝

电气性能:

额定电流:1.5A

接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)

机械性能:

压力:28g±20%(工作行程内)

测试寿命:10 万次

产品特点及性能参数:


1、产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM);


2、产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,


3、把频率衰减降到最低,减少误测;


4、有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压;


5、采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命;


6、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命;


7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 精确定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间;


8、采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,DDR4 系列频率2133MHZ起步;


9、探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便

维护,为生产争取宝贵时间;


10、高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位精确,取放 IC 方便,从而提高测试效率;


11、测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)