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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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IC老化座DFN6-0.5塑胶翻盖探针测试座镀金耐高温插座 WSON6烧录座

发表时间:2021-08-16 16:23:26浏览量:1361

产品简介 A、产品用途:转接座、编程座、测试座,对DFN6的IC芯片进行老化测试 B、适用封装:WSON\QFN\DFN6 引脚间距0.5mm C、测试座:WSON\QFN\DFN6(1.5*1.5)-0.5 D、特点:采用U型顶针,...
产品简介

A、产品用途:转接座、编程座、测试座,对DFN6的IC芯片进行老化测试

B、适用封装:WSON\QFN\DFN6 引脚间距0.5mm

C、测试座:WSON\QFN\DFN6(1.5*1.5)-0.5

D、特点:采用U型顶针,接触稳定,性能更稳定

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、寿命长(翻盖结构10万次)

F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD

G、IC进行有锡球、无锡球不同测试,,交期快,提高使用效率


规格尺寸

A、型号:WSON\QFN\DFN6(1.5*1.5)-0.5

B、引脚间距(mm):0.5

C、脚位:6

D、芯片尺寸:1.5*1.5