新品QFN8老化座1.27间距下压探针座芯片测试座编程座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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新品QFN8老化座1.27间距下压探针座芯片测试座编程座

发表时间：2021-08-16 17:50:45浏览量：1375【小中大】

产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN8的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN8引脚间距1.27mm 测试座:QFN8-1.27 特点:采用进口探针，接触更稳定，寿命更长规格尺寸型号:QFN-8-1.27 引脚间距(mm...

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距1.27mm

测试座:QFN8-1.27

特点:采用进口探针，接触更稳定，寿命更长

规格尺寸

型号:QFN-8-1.27

引脚间距(mm): 1.27

脚位:8

适配芯片尺寸:5*6 mm