qfn28-0.5间距下压弹片老化座烧录座测试座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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qfn28-0.5间距下压弹片老化座烧录座测试座

发表时间：2022-06-14 17:07:44浏览量：1658【小中大】

产品简介 A、产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行老化、测试 B、适用封装:QFN28引脚间距0.5mm C、测试座:QFN28-0.5 D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长 E、我司可提供规格书（...

谷易电子生产的qfn28-0.5间距下压弹片老化座烧录座测试座

产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN28引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN28-0.5
D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长
E、我司可提供规格书（布板图），可以随时联系客户