深圳谷易电子生产的QFN56pin下压合金顶窗式探针测试座

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QFN/DFN封装系列

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QFN56pin下压合金顶窗式探针测试座

发表时间：2023-02-09 18:05:00浏览量：1026【小中大】

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深圳谷易电子生产的QFN56pin下压合金顶窗式探针测试座

QFN芯片测试座，QFN芯片老化座，QFN芯片烧录座

烧录使用，不考虑测试没有频率信号测试要求

测试电流：200mA以内

测试温度：不考虑

测试座材料：合金

测试座结构：下压式