深圳谷易电子生产的DFN6pin探针老化座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN6pin探针老化座socket

发表时间：2023-06-14 10:44:57浏览量：910【小中大】

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深圳谷易电子生产的DFN6pin探针老化座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

DFN芯片测试座、DFN芯片老化座、DFN芯片烧录座

DFN6pin芯片老化测试条件要求：

芯片老化测试温度：125°，持续1000小时

芯片测试电流：450mA

芯片测试频率：4G

芯片测试电压：3.3V

老化座结构：翻盖

老化座材料：塑胶