深圳谷易电子生产的DFN4pin电容老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN4pin电容老化测试座socket

发表时间：2023-07-28 11:15:18浏览量：758【小中大】

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深圳谷易电子生产的DFN4pin电容老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

DFN封装电容老化测试座（Burn-in-socket）

老化测试温度：+85°

需要过瞬时大电流：3000mA，瞬时持续时间：0.005ms

无频率测试要求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金