深圳谷易电子生产的USON8/DFN8pin军工级耐高低温芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8芯片测试环境：老化、测试、烧录

DFN8pin芯片老化测试座产品简介：

芯片高低温测试范围：-55°~+175°，芯片老化测试时长：8000小时

特点:彩用耐高温 镀金弹片， 接触稳定，双面弹下压结构，方便拆卸

我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

该款DFN8pin芯片老化座耐高低温，无需焊接

老炼座结构：下压式

老炼座材料：塑胶