深圳谷易电子生产的DFN4pin晶振老化座socket—IC老炼夹具_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN4pin晶振老化座socket—IC老炼夹具

发表时间：2023-12-20 10:49:57浏览量：849【小中大】

深圳谷易电子生产的DFN4pin晶振老化座socket—IC老炼夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用DFN封装晶振测试环境：老化、测试、烧录 DFN封装晶振老化测试座产品简介：晶振测试电流：...

深圳谷易电子生产的DFN4pin晶振老化座socket—IC老炼夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN封装晶振测试环境：老化、测试、烧录

DFN封装晶振老化测试座产品简介：

晶振测试电流：合计SW是10A，Vin是3A

晶振测试温度：-45°~+155°

没有其他测试要求

晶振老化座结构：翻盖式

晶振老化座材料：塑胶