深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼座socket—qfn芯片老化测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > QFN/DFN封装系列

QFN24pin芯片老炼座socket—qfn芯片老化测试夹具

发表时间：2024-02-23 10:40:46浏览量：299【小中大】

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL测试 QFN24pin芯片老化测试夹具产品简介： HAST测试：+130°，湿度85% HTOL测试：温循：-55°~125° 芯片测试电流：500mA...

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL测试

QFN24pin芯片老化测试夹具产品简介：

HAST测试：+130°，湿度85%

HTOL测试：温循：-55°~125°

芯片测试电流：500mA

单次满足1000小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片测试座材料：塑胶