深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN芯片测试夹具

发表时间：2024-04-30 10:32:02浏览量：857【小中大】

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深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，该款支持开尔文测试

DFN8pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试电压：750V

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座socket结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金