深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具

发表时间：2024-05-24 10:37:04浏览量：815【小中大】

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用DFN8pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化 DFN8pin芯片老炼夹具...

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化

DFN8pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片测试电流：200mA，持续电流时间：20s

芯片老化测试温度：-55°~+125°，单次老化时长1000小时

DFN芯片老化测试座结构：翻盖式

芯片老炼夹具材料：PEI