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QFN/DFN封装系列

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QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具

发表时间:2024-06-12 09:56:35浏览量:326

深圳谷易电子生产的QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用QFN28pin芯片测试环境:老化、测试、烧录 QFN28pin芯片老化测试座产品简介: 芯片...

深圳谷易电子生产的QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

QFN28pin芯片老化测试座产品简介:

芯片测试频率:9.2Mhz

芯片测试电流:300mA

芯片老化测试要求:-45°~+135°,持续时长:1000小时

QFN芯片老炼夹具结构:翻盖式

芯片老化测试座材料:PEI