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QFN/DFN封装系列

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DFN14pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具

发表时间:2024-08-01 10:50:35浏览量:608

深圳谷易电子生产的DFN14pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于DFN14pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能测试、芯片导通测试...

深圳谷易电子生产的DFN14pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN14pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能测试、芯片导通测试、芯片可靠性测试。

DFN14pin芯片老化测试socket产品简介:

芯片测试电流:单pin电流1A

芯片测试工作温度:-45°~+145°,持续工作时长:2000小时

芯片老化座结构:翻盖式

芯片老炼夹具材料:合金