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QFN/DFN封装系列

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QFN44pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具

发表时间：2024-09-19 10:27:56浏览量：788【小中大】

深圳谷易电子生产的QFN44pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于QFN系列44pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯...

深圳谷易电子生产的QFN44pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN系列44pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试

QFN44pin芯片测试座socket产品简介：

芯片测试电流：800mA

芯片测试频率：150Mhz

芯片测试温度：-40°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：PEI

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