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QFN/DFN封装系列

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QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具

发表时间：2024-10-17 10:09:41浏览量：589【小中大】

深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测...

深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试，芯片HAST/HTOL测试

QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介：

芯片HAST测试：需要多次试验

芯片老炼测试温度：+125°

芯片测试湿度：85%

芯片HAST测试时长：180小时/轮

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化测试座夹具材料：PEI

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