深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > QFN/DFN封装系列

QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座

发表时间：2024-11-07 15:46:07浏览量：635【小中大】

深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试，芯片...

深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试，芯片功能性测试

QFN24pin芯片老化测试座产品简介：

该款老炼座支持QFN芯片HAST测试、HTOL测试

芯片HTOL测试：+125°，单次满足2000h

芯片HAST测试：+130°，85%湿度，单次老化时长：190h

芯片测试电流：整体过流1A以内

上一篇： QFN28pin老化测试座socket—qfn芯片老炼测试夹具

下一篇： DFN12pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具

产品中心Product Center

QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座

在线咨询