深圳谷易电子生产的QFN33/29pin一拖二工位芯片测试治具—QFN芯片测试架,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN33/29pin一拖二工位芯片测试治具—QFN芯片测试架

发表时间：2025-05-20 10:07:00浏览量：310【小中大】

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深圳谷易电子生产的QFN33/29pin一拖二工位芯片测试治具—QFN芯片测试架的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

产品介绍：
产品名称:QFN33pin-0.5mm/QFN29pin-0.5mm一拖二工位合金翻盖式芯片测试治具
使用用途:对QFN33+QFN29pin芯片进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片功能性测试,芯片可靠性测试
性能参数:频率1.5Ghz,电流单pin满足1A,功率小于5W