DFN8_1.27_6×8mmWSON8探针测试座_QFN8下压老化座_概述_性能_特点_规格_ 应用

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QFN/DFN封装系列

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DFN8_1.27_6×8mmWSON8探针测试座_QFN8下压老化座

发表时间：2021-05-12 15:59:16浏览量：1222【小中大】

产品简介㈠、产品用途: 对DFN8的IC芯片进行老化、编程、测试㈡、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm ㈢、测试座:WSON\QFN\DFN8（6*8)-1.27 ㈣、特点:探针结构，接触稳定，品质保证 ...

工厂介绍

谷易电子生产DFN8_1.27_6×8mmWSON8探针测试座同时专业定制BGA,LGA,CSP,QFN,DFN,QFP,PLCC,LCC,SOT,SOP,TSSOP, SSOP,TSOP,TO,DIP等各种封装和规格测试座,测试治具,老化座,测试架,IC插座,具体类型,价格和交期请咨询客服!

产品简介

㈠、产品用途: 对DFN8的IC芯片进行老化、编程、测试

㈡、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm

㈢、测试座:WSON\QFN\DFN8（6*8)-1.27

㈣、特点:探针结构，接触稳定，品质保证

㈤、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、理论寿命长达10万次

㈥、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

㈦、IC进行有锡球、无锡球不同测试，，交期快，提高使用效率

规格尺寸

㈠、型号:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27

㈡、引脚间距(mm):1.27

㈢、脚位:8

㈣、芯片尺寸:6*8mm

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