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QFP封装系列

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CQFP64pin芯片老化测试座socket—QFP芯片老炼夹具

发表时间：2024-04-24 10:34:20浏览量：680【小中大】

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深圳谷易电子生产的CQFP64pin芯片老化测试座socket—QFP芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用CQFP64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

CQFP64pin老化测试座产品简介：

芯片测试电流：1A以内

芯片测试频率：300Mhz

芯片老化测试温度：-45°~+125°

芯片老炼夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：PEI