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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间:2021-06-09 10:33:19浏览量:2182【小中大】
pogo pin QFN测试座老化座 QFn44 ATE测试座
pogo pin QFN测试座老化座 QFn ATE测试座产品特点:
1,采用自动机压结构,操作方便,工作效率大大提高;
2,探针一端接触QFN芯片,一端接触测试板的相对应焊盘点,接触稳定。
3,高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试精准率高;
4,探针可更换,维修方便,成本低;
5,绝缘材料:torlon,PEI,PEEK,PPS,FR4,
6,小可做到的测试间距PITCH=0.25MM;
7,测试频率可达15GHZ;
8,用途:集成电路应用功能验证测试;
9,可根据用户需求定做各种阵列的自动/手动测试座。
QFN44测试座可直接通过双头探针转接在PCBA测试板上,通过螺丝孔和定位销孔固定。定制各种BGA,QFN,DFN,FBGA,BGA,PBGA等封装的测试座,根据客户要求定做,一个起订,使用寿命15万次以上。具体结构参数欢迎来电咨询洽谈!
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