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TO封装系列

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TO247-3L功率器件下压老化测试座socket

发表时间:2023-08-16 11:15:45浏览量:436

深圳谷易电子生产的TO247-3L功率器件下压老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 TO247场效应管MOS管TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具 特点:单PIN引脚使用...

深圳谷易电子生产的TO247-3L功率器件下压老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

TO247场效应管MOS管TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具

特点:单PIN引脚使用多跟探针接触,保证大功率、大电流稳定传输,散热大焊盘使用接地散热探针来加速管子散热不易烧坏。

     TO247-3pin大电流下压老化座产品简介:

     适配IC封装:TO247

     pin脚数:3pin

     引脚中心距:2.54mm

     电流:单pin持续电流≤2A

     工作温度:PEI/PES:-55°C-175°C

     PPS:-55°C-200°C

     耐压:2000V

     频率:≤200MHZ

     机械寿命:≥50000次

     使用寿命:≥50000次

     TO247老化座支持3pin和4pin下针,图纸如下: