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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

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BGA316-TSOP48一拖二翻盖测试座SM2256K探针测试夹具数据读写

发表时间:2021-08-20 10:22:43浏览量:1544

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本,翻盖操作取换芯片简单,探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这...

厂家介绍:

谷易电子生产BGA316-TSOP48一拖二翻盖测试座SM2256K探针测试夹具数据读写测试座,同时生产其他IC测试设备

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本,翻盖操作取换芯片简单,探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。


产品简介

产品用途:芯片测试座,对BGA316/TSOP48的IC芯片进行测试、读取数据

适用封装:BGA316 引脚间距0.8mm TSOP48 引脚间距0.5mm

测试座:BGA316 TSOP48 一拖二

特点:1、一块主板,两个座子,1、TSOP48的老化座对针孔插在黄色转接板上,测试TSOP48的芯片。2、BGA316测试座,直接放入对应的芯片测试

规格尺寸

型号:BGA316 0.8间距 /TSOP48 0.5间距

引脚间距(mm):BGA316 :0.8间距

芯片尺寸:14*18