LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片_概述_性能_特点_规格_应用

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SSD-flash测试夹具

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LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片

发表时间：2021-08-24 15:09:16浏览量：1656【小中大】

厂家介绍：谷易电子生产LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片，同时生产其他IC测试设备 LGA52翻盖探针转DIP48测试座简介 1：支持所有LGA52封装品牌的IC（列如东芝、三星、...

厂家介绍：

谷易电子生产LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片，同时生产其他IC测试设备

LGA52翻盖探针转DIP48测试座简介

1：支持所有LGA52封装品牌的IC（列如东芝、三星、镁光……）

2：兼容LGA52大小尺寸，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH。LGA52芯片常用规格为14*18、12*20、13*17、12*17、12*18几种，请客户下单时注明您所需要的规格，除了14*18，其它规格的限位框一般没有现货，要现做，交期会拖后一两天。

3：LGA52翻盖探针转DIP48,支持不同的主控板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK……等方案可互换！。

4：寿命高达12万次，可以维修。

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