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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

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LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片

发表时间:2021-08-24 15:09:16浏览量:1206

厂家介绍: 谷易电子生产LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片,同时生产其他IC测试设备 LGA52翻盖探针转DIP48测试座简介 1:支持所有LGA52封装品牌的IC(列如东芝、三星、...

厂家介绍:

谷易电子生产LGA52IC_nand_flash翻盖探针测试座海力士H27UCG8T2M存储芯片,同时生产其他IC测试设备

LGA52翻盖探针转DIP48测试座简介


1:支持所有LGA52封装品牌的IC(列如东芝、三星、镁光……)

2:兼容LGA52大小尺寸,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH。LGA52芯片常用规格为14*18、12*20、13*17、12*17、12*18几种,请客户下单时注明您所需要的规格,除了14*18,其它规格的限位框一般没有现货,要现做,交期会拖后一两天。

3:LGA52翻盖探针转DIP48,支持不同的主控板,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK……等方案可互换!。

4:寿命高达12万次,可以维修。