测试8CE_BGA152-132-88翻盖转96PIN测试座 flash开卡测试量产治具_概述_性能_特点_规格_应用

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SSD-flash测试夹具

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测试8CE_BGA152-132-88翻盖转96PIN测试座 flash开卡测试量产治具

发表时间：2021-08-26 14:57:41浏览量：1390【小中大】

厂家介绍：谷易电子生产测试8CE_BGA152-132-88翻盖转96PIN测试座 flash开卡测试量产治具，同时生产其他IC测试设备测试8个CE 产品简介产品用途:编程座、测试座，对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据...

厂家介绍：

谷易电子生产测试8CE_BGA152-132-88翻盖转96PIN测试座 flash开卡测试量产治具，同时生产其他IC测试设备

测试8个CE

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据

适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0

特点:测试8CE

规格尺寸

型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

脚位:88

芯片尺寸:12*18/14*18 可更换限位框