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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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发表时间：2021-07-30 11:35:10浏览量：1814【小中大】
◆ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;
◆ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压
平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的
氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
◆ 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定
位精确，测试效率高；
◆ 最小可做到的测试间距pitch=0.25mmm；
◆ 测试频率可达9.3GHz；
◆ 用途：集成电路应用功能验证测试；
◆ 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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