IC测试座下压弹片老化座QFN56（8-8）烧写座0.5间距双触点_概述_性能_特点_规格_应用

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IC测试座下压弹片老化座QFN56（8-8）烧写座0.5间距双触点

发表时间：2021-08-09 15:09:56浏览量：1178【小中大】

IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制 QFN56-0.5翻盖弹片测试座产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.5m...

IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

QFN56-0.5翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.5mm

测试座:QFN56-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-56-0.5

引脚间距（mm）：0.5

脚位:56

适配芯片尺寸:8*8mm

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