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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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发表时间:2022-08-30 14:39:37浏览量:1254【小中大】
深圳谷易电子生产的定制LCC44pin-1.1mm(16x18mm)合金翻盖探针测试座
芯片封装类型:LCC
引脚数:44pin
中心间距:1.1mm
尺寸:16×18mm
结构:合金翻盖式
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