深圳谷易电子生产的SOT23-8L晶振测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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定制IC test socket

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SOT23-8L晶振测试座socket

发表时间：2023-05-23 10:37:59浏览量：652【小中大】

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深圳谷易电子生产的SOT23-8L晶振测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

SOT封装测试座、晶振测试座

SOT23-8L晶振测试条件要求

测试电流：单pin过8A，持续：15ms

测试温度：-40°~+155°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶