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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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发表时间:2023-07-18 11:27:13浏览量:990【小中大】
深圳谷易电子生产的LGA24pin芯片探针老化座socket_概述_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于LGA芯片HAST/HTOL老化环境测试
产品简介:
HAST老化测试环境:150°,80%RH,78h,需要做温循
芯片测试电流:100mA
芯片测试频率:1Ghz
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金
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