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LGA144pin芯片探针老化测试座socket

发表时间:2023-07-20 10:33:40浏览量:529

深圳谷易电子生产的LGA144pin芯片探针老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用_生产厂家 该款芯片探针测试座适用于LGA144pin芯片测试、老化、烧录使用 产品简介: 芯片老化测试温度:-50°~125° 芯片测试电...

深圳谷易电子生产的LGA144pin芯片探针老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用_生产厂家

该款芯片探针测试座适用于LGA144pin芯片测试、老化、烧录使用

产品简介:

芯片老化测试温度:-50°~125°

芯片测试电流:1A

芯片测试频率:1Ghz

老化测试座结构:旋钮翻盖式

老化测试座材料:合金