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LCC48pin芯片探针测试座socket

发表时间:2023-11-07 10:03:04浏览量:404

深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用LCC48pin芯片测试环境:老化、测试、烧录 LCC48pin芯片测试座产品简介: 芯片测试频率:10Mhz 芯片...

深圳谷易电子生产的LCC48pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC48pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

LCC48pin芯片测试座产品简介:

芯片测试频率:10Mhz

芯片测试电流:40mA

芯片测试温度范围:-45°~+80°,持续时长:72小时

芯片旋转测试:不超过600°/s

芯片振动测试:不超过30g

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试座材料:合金