3225-4pin翻盖探针晶振老化座

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晶振老化测试座

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发表时间：2021-05-22 15:35:37浏览量：2479【小中大】

产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的晶振进行高低温老化测试

工厂介绍

谷易电子生产3225-4pin翻盖探针晶振老化座同时专业定制BGA,LGA,CSP,QFN,DFN,QFP,PLCC,LCC,SOT,SOP,TSSOP, SSOP,TSOP,TO,DIP等各种封装和规格测试座,测试治具,老化座,测试架,IC插座,具体类型,价格和交期请咨询客服!