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晶振老化测试座

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5032-4PIN晶振探针老化座5.0-3.2晶振翻盖探针频率测试座

发表时间:2021-07-07 17:12:19浏览量:1256

产品简介 A、产品用途:老化座、测试座,对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试 B、适用封装: 5032(5.0*3.2)-4PIN晶振探针老化座 C、采用双触点技术,接触更稳定、体积小。 D、采用特殊的工程塑胶,强...
产品简介

A、产品用途:老化座、测试座,对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试

B、适用封装: 5032(5.0*3.2)-4PIN晶振探针老化座

C、采用双触点技术,接触更稳定、体积小。

D、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长、阻抗小、弹性好

E、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度,使用寿命(翻盖结构20000次)

F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD

规格尺寸

A、型号: 5032(5.0*3.2)-4PIN

B、脚位:4

C、芯片尺寸:5.0*3.2