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晶振老化测试座

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3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具

发表时间:2024-01-26 10:54:25浏览量:1061

深圳谷易电子生产的3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用3225晶振4pin测试环境:老化、测试、烧录 3225晶振4pin测试座产品简介: 晶振测试电流...

深圳谷易电子生产的3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用3225晶振4pin测试环境:老化、测试、烧录

3225晶振4pin测试座产品简介:

晶振测试电流:25mA

晶振测试频率:60Mhz

测试温度:-40°~+85°

晶振测试座结构:翻盖式(开天窗)