深圳谷易电子生产的定制晶振10pin-0.8mm芯片测试座-晶振DFN芯片测试socket，简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家

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晶振老化测试座

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定制晶振10pin-0.8mm芯片测试座-晶振DFN芯片测试socket

发表时间：2026-03-05 09:25:44浏览量：208【小中大】

深圳谷易电子生产的晶振10pin-0.8mm芯片测试座-晶振DFN芯片测试socket的产品简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家介绍产品介绍：产品名称：定制晶振10pin-3.8 12.6X20.2X6塑胶翻盖探针测试座使用...

深圳谷易电子生产的晶振10pin-0.8mm芯片测试座-晶振DFN芯片测试socket的产品简介，性能，特点，规格，应用，生产厂家介绍

产品介绍：

产品名称：定制晶振10pin-3.8 12.6X20.2X6塑胶翻盖探针测试座

使用用途：对晶振10pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数：频率小于1Ghz，电流单pin1A，温度-45~+125°C

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